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產品中心
型號:TG128

  TG128雙盤機械天平可供工礦企業、科研機構、高等院校實驗室、化驗室作精密衡量分析之用。

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雙盤機械天平 TG128

型號:JA系列

  1、型電磁力傳感器2、防震,稱量速度可調3、動零位跟蹤可調4、量程范圍去皮5、態溫度補償6、下稱吊鉤7、熒光顯示8、報警功能9、載保護10、RS232接口11、司、克拉等單位轉換12、五面玻璃防風罩,體積大視野清晰

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JA系列電子精密天平

型號:|FA系列

  1、大型電磁力傳感器2、四級防震,稱量速度可調3、顯示方式可調4、自動零位跟蹤可調5、自動校準6、全量程范圍去皮7、動態溫度補償8、自動故障診斷9、內置下稱吊鉤10、柔和背光液晶顯示11、過載保護12、內置RS232接口13、克、盎司、克拉等單位轉換14、計件、百分比稱量

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|FA系列電子分析天平

型號:2W

  測定透明、半透明液體或者固體的折射率和濃度,通過精密光電測量的辦法,并結合微處理技術,可直接將測量數據顯示在液晶顯示器上。它是石油工業、油脂、食品工業、日用化學、制糖工業和地質勘查等有關企業、科研、教學部門不可缺少的常用儀器之一。

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2W雙目阿貝折射儀

型號:2WAJ

  阿貝折射儀2WAJ能測定透明、半透明液體或固體的折射率ND和平均色散NF-NC的儀器。儀器上接有恒溫器,則可測定溫度為0℃~70℃內的折射率ND,并能測出糖溶液內含糖量濃度的百分數從0-95%(相當于折射率為1.333-1.531)。

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阿貝折射儀 2WAJ

型號:9W

  9W測微光度計.主要用途是對各種攝譜儀所攝下之譜片進行黑度測量,以確定被測元素的含量完成光譜的定量分析工作。還可于照相膜層之密度檢查和感光能力檢查。以及配合其它光學儀器作象差測量等。

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測微光度計 9W

型號:8W

  8W光譜投影儀為攝譜儀成套設備之一,主要用于對攝譜儀所攝下之光譜底板通過投影放大,與標準譜板或已知濃度的光譜進行定性或半定量分析。也可作為一般投影放大用.

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光譜投影儀 8W

型號:WZZ-2S

  數字自動旋光儀WZZ-2S是測定物質旋光度的儀器。通過對樣品旋光度的測定,可以確定樣品的濃度、純度、糖度或含量。廣泛用于制糖、制藥、藥檢、食品、香料、味精以及化工、石油等工業生產、科研、教學部門,作化驗分析或過程質量控制。

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數字自動旋光儀 WZZ-2S

型號:WZZ-1S

  數字自動旋光儀WZZ-1S是測定物質旋光度的儀器。通過對樣品旋光度的測定,可以確定樣品的濃度、純度、糖度或含量。廣泛用于制糖、制藥、藥檢、食品、香料、味精以及化工、石油等工業生產、科研、教學部門,作化驗分析或過程質量控制

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數顯旋光儀 WZZ-1S

型號:WXG-4

  WXG-4圓盤旋光儀是測定物質旋光度的儀器。通過對樣品旋光度的測定,可以確定樣品的濃度、純度、糖度或含量。WXG-4圓盤旋光儀用于制糖、制藥、藥檢、食品、香料、味精以及化工、石油等工業生產、科研、教學部門,作化驗分析或過程質量控制。

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旋光儀 WXG-4

型號:CPJ-3015

  CPJ系列數字元測量投影儀是光、機、電一體化的精密高校測量儀器。立式投影儀的工件影像可以是全正像也可以為倒像,測量簡易直觀,效率高。儀器光學質量優良,物鏡成清晰,放大倍率準確。在透射光照明下,輪廓測量誤差小于0.08%。

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反像測量投影儀 CPJ-3015

型號:CPJ-3010

  CPJ系列數字元測量投影儀是光、機、電一體化的精密高校測量儀器。立式投影儀的工件影像可以是全正像也可以為倒像,測量簡易直觀,效率高。本儀器能高效率的檢測各種形狀復雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。

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反像測量投影儀 CPJ-3010

型號:CPJ-3007

  CPJ系列數字元測量投影儀是光、機、電一體化的精密高校測量儀器。立式投影儀的工件影像可以是全正像也可以為倒像,測量簡易直觀,效率高。本儀器能高效率的檢測各種形狀復雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。

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反像測量投影儀 CPJ-3007

型號:CMS-554C

  全自動三坐標測量機又稱三次元采用移動橋式結構,顯著的提高了運動性能.全花崗石工作臺.道軌.橫梁和Z軸,具有相同的溫度特性和剛性,并通過有限元分析,動態特性分析.從而使整機具有了高的穩定性和可靠性。

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三坐標測量機、全自動 CMS-554C

型號:CMS-554M

  CMS-554M三座標測量機能實現空間坐標點位的測量。方便的測量出各種零件的三維輪廓尺寸,形狀及位置精度。它是集光,機,電,算于一體的精密測量儀器。它廣泛的應用于機械制造,電子,汽車和航空航天等工業中。

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三坐標測量機 CMS-554M

型號:PG150-PC

  1、PG15-J型激光平面干涉儀工作基于雙光束等厚干涉原理。2、根據近代光學的研究結果,光兼有波動與微粒兩重特性。光的干涉現象是光的波動性的特性。

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激光平面干涉儀 PG150-PC

型號:6JA

  干涉顯微鏡6JA是用來測量精密加工零件(平面、圓柱等外表面)光潔度的儀器,也可以用來測量零件表面刻線,鍍層等深度。

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干涉顯微鏡 6JA

型號:9j

  顯微鏡9J是以光切測量另件加工表面的微觀不平度。其能判國家標準GB1031-68所規定▽3-▽9級表面光潔度。(表面粗糙度12.5-0.2)對于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進行測量。

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光切法顯微鏡 9j(新款)

型號:JSN-1A

  機械比較儀適用于測量工件的幾何尺寸和形位偏差,特別是檢定工件的跳動量,并可用比較法測量長度。比較儀儀校驗臺是機械比較儀用的校驗臺架,與量塊配合使用可測定比較儀的示值變動性等性能指標。

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機械式比較儀 JSN-1A

型號:JDG-S1

  數字式立式光學計JDG-S1是一般是用標準器(如量塊)以比較法測量工件的尺寸。主要用于對五等量塊,量棒,鋼球,線形及平行平面狀精密量具和零件的外形尺寸作精密測量,本儀器頭部亦可作為一個獨立體,在科研,生產過程控制及在線測量等方面

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數字式立式光學計 JDG-S1

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