JDG-S3立式光學(xué)計是一般是用標準器（如量塊）以比較法測量工件的尺寸。主要用于對五等量塊，量棒，鋼球，線形及平行平面狀精密量具和零件的外形尺寸作精密測量，本儀器頭部亦可作為一個獨立體，在科研，生產(chǎn)過程控制及在線測量等方面，對被測件作微小位移測量，及對非金屬如：薄膜、紙張等的厚度測量。

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　　機械比較儀適用于測量工件的幾何尺寸和形位偏差，特別是檢定工件的跳動量，并可用比較法測量長度。比較儀儀校驗臺是機械比較儀用的校驗臺架，與量塊配合使用可測定比較儀的示值變動性等性能指標。

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　　數(shù)字式立式光學(xué)計JDG-S1是一般是用標準器（如量塊）以比較法測量工件的尺寸。主要用于對五等量塊，量棒，鋼球，線形及平行平面狀精密量具和零件的外形尺寸作精密測量，本儀器頭部亦可作為一個獨立體，在科研，生產(chǎn)過程控制及在線測量等方面

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　　立式光學(xué)計LG-1是一采用量塊或標準零件與試件相比較的方式來測量物體外形尺寸的儀器.主要用于五等精度量塊,一級精度柱型規(guī)以及各種圓柱形、球形、線形等物體的直徑或板形物體的厚度的精密測量，亦可用來控制精密零件的加工。

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